在半導體生產(chǎn)過程中,從半導體單晶片到芯片的制作過程中需要經(jīng)歷數(shù)百道工序。為了確保產(chǎn)品性能符合標準,穩(wěn)定可靠,并且有高的成品率,每個工藝步驟都必須有嚴格的具體要求。因此,在生產(chǎn)過程中必須建立相應的系統(tǒng)和精確的監(jiān)控措施,首要是從半導體工藝檢測開始。檢測是貫穿整個芯片制造過程的,因此檢測設(shè)備也是半導體生產(chǎn)中最獨特的設(shè)備體系,包括多種檢測流程,多種檢測設(shè)備。
半導體檢測,首先最需要的就是穩(wěn)定性,端徑跳足夠小,速度穩(wěn)定性足夠高,其次是精度足夠高。
德瑪特氣浮系列,具有高精度,高穩(wěn)定性特點。對于旋轉(zhuǎn)類檢測,如探針臺、對位轉(zhuǎn)臺,有氣浮旋轉(zhuǎn)平臺,對于直線類檢測,有氣浮直線平臺。
氣浮直線平臺airDDLP系列,直線度±0.25~±4μm,重復精度低至±2μm。適合滿足晶圓檢測、高精度計量、X 射線衍射系統(tǒng)、光學檢測和制造以及 MEMS/納米技術(shù)器件制造的嚴格要求。
氣浮旋轉(zhuǎn)平臺airUPRT氣浮旋轉(zhuǎn)平臺,端跳低至70納米,徑跳100納米,具備高穩(wěn)定性,適合半導體檢測、劃片、減薄等多種流程。